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林賽斯LSR-3熱電參數測量系統是一款高度靈活的模塊化平臺，專為材料熱電性能（塞貝克系數與電導率）表征而設計。其溫度范圍覆蓋-100°C至1500°C，支持多種樣品形態。系統可通過哈曼法等選配升級為LSR-4，實現ZT值及熱電模塊性能的直接測量，是熱電材料研發與優化的強大工具。

林賽斯HCS 霍爾效應測量儀 專為半導體材料電學性能表征而設計，可精確測定霍爾常數、電阻率，并計算載流子濃度與遷移率。系統支持從-196°C至600°C的寬廣溫度范圍，并提供永磁體（±0.7T）或電磁體（±1T）配置，以滿足不同精度需求。其模塊化設計與氣密測量室，確保在真空或多種氣氛下實現對SiC、GaN等材料的靈活、高精度分析。

林賽斯TFA L59 薄膜分析儀，是一個高度集成的測量平臺。其獨特的預結構化芯片設計，支持對通過多種方法制備的5nm至25μm薄膜，在單次測量中（-160°C至280°C）即可同時、同向獲取面內導熱系數、電導率及塞貝克系數等關鍵參數，極大簡化了半導體、陶瓷等薄膜材料的研發表征流程。

林賽斯TEG-Tester是一款專為熱電器件與珀爾帖元件設計的綜合性能測試系統。它能精確施加溫度梯度或外部電流，實時采樣電壓與電流以追蹤最大功率點，快速評估轉換效率與制冷/產熱性能，支持多種運行模式和自動機械加載，是熱電器件研發與質量控制的理想工具。

林賽斯LSR-1塞貝克系數/電阻測試儀 是一款結構緊湊、高度自動化的臺式分析儀，專為材料塞貝克系數與電阻率的精確同步測量而設計。其基礎測量范圍覆蓋-160°C至600°C，可通過低溫、光照等模塊靈活擴展，并支持真空及多種氣氛環境，是研發各類塊體與薄膜熱電材料的理想工具。

林賽斯LSR-3 塞貝克系數/電阻測試儀是一款高度靈活的模塊化平臺，專為材料熱電性能（塞貝克系數與電導率）表征而設計。其溫度范圍覆蓋-100°C至1500°C，支持多種樣品形態。系統可通過哈曼法等選配升級為LSR-4，實現ZT值及熱電模塊性能的直接測量，是熱電材料研發與優化的強大工具。