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當前位置:首頁產品中心熱電電磁測試儀HCS-霍爾效應測量系統
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熱電電磁測試儀
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林賽斯HCS 霍爾效應測量儀 專為半導體材料電學性能表征而設計,可精確測定霍爾常數、電阻率,并計算載流子濃度與遷移率。系統支持從-196°C至600°C的寬廣溫度范圍,并提供永磁體(±0.7T)或電磁體(±1T)配置,以滿足不同精度需求。其模塊化設計與氣密測量室,確保在真空或多種氣氛下實現對SiC、GaN等材料的靈活、高精度分析。
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